在PECVD工艺中,沉积氧化硅薄膜以SiH?基与TEOS基两种工艺路线为主。IMD Oxide(USG)这部分主要沉积未掺杂的SiO?,也叫USG(Undoped Silicate Glass),常用于IMD(Inter-Metal Dielectric)。
反应路径包括:
SiH? + O? → SiO?
SiH? + N?O → SiO?
TEOS + O? → SiO?
TEOS + N?O → SiO?
这些都通过 RF激发来沉积 SiO?。
也包括:SiH? + O? → SRO,SRO又名富硅氧化物,Si:O 的原子比大于 1:2,调节 SiH? 与 O? 的比例,可以控制膜中硅的含量。
PMD Oxide
用于 PMD 层,一般掺杂磷(P)或硼(B)以调控应力和流动性。
反应路径:
SiH? + PH? + O? → SiO? + P?O? + H?
TEOS + TMP + O? → PSG
SiH? + PH? + B?H? + O? → SiO? + P?O? + B?O? + H?
TEOS + TMP + TEB + O? → BPSG
TEOS,TMP,TEB分别是什么?
1,TEOS(TetraEthyl OrthoSilicate)
中文名称:正硅酸四乙酯
分子式:Si(OC?H?)?
结构特征:
中心原子是硅(Si),连接四个乙氧基(OC?H?);
易水解,常用于硅氧化物(SiO?)薄膜的前驱体。
2,TMP(TriMethylPhosphate)
中文名称:三甲基磷酸酯
分子式:PO(OCH?)?
结构特征:
中心是一个磷(P)原子,与一个双键氧(=O)和三个甲氧基(OCH?)相连;
是一种液态有机磷化合物。
3,TEB(TriEthylBorate)
中文名称:三乙基硼酸酯
分子式:B(OC?H?)?
结构特征:
中心原子是硼(B),连接三个乙氧基(OC?H?);
易挥发,化学活性高。
1940