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PECVD 生成 SiO? 的反应方程式

05/31 08:25
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在PECVD工艺中,沉积氧化硅薄膜以SiH?基TEOS基两种工艺路线为主。IMD Oxide(USG)这部分主要沉积未掺杂的SiO?,也叫USG(Undoped Silicate Glass),常用于IMD(Inter-Metal Dielectric)。

反应路径包括:

SiH? + O? → SiO?

SiH? + N?O → SiO?

TEOS + O? → SiO?

TEOS + N?O → SiO?

这些都通过 RF激发来沉积 SiO?。

也包括:SiH? + O? → SRO,SRO又名富硅氧化物,Si:O 的原子比大于 1:2,调节 SiH? 与 O? 的比例,可以控制膜中硅的含量。

PMD Oxide

用于 PMD 层,一般掺杂磷(P)或硼(B)以调控应力和流动性。

反应路径:

SiH? + PH? + O? → SiO? + P?O? + H?

TEOS + TMP + O? → PSG

SiH? + PH? + B?H? + O? → SiO? + P?O? + B?O? + H?

TEOS + TMP + TEB + O? → BPSG

TEOS,TMP,TEB分别是什么?

1,TEOS(TetraEthyl OrthoSilicate)

中文名称:正硅酸四乙酯

分子式:Si(OC?H?)?

结构特征

中心原子是硅(Si),连接四个乙氧基(OC?H?);

易水解,常用于硅氧化物(SiO?)薄膜的前驱体。

2,TMP(TriMethylPhosphate)

中文名称:三甲基磷酸酯

分子式:PO(OCH?)?

结构特征:

中心是一个磷(P)原子,与一个双键氧(=O)和三个甲氧基(OCH?)相连;

是一种液态有机磷化合物。

3,TEB(TriEthylBorate)

中文名称:三乙基硼酸酯

分子式:B(OC?H?)?

结构特征:

中心原子是硼(B),连接三个乙氧基(OC?H?);

易挥发,化学活性高。

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