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注入剂量(Dose)指的是单位面积内注入到硅晶圆等材料中的离子总数,其单位通常为?ions/cm?。它反映了掺杂杂质的总量,是决定器件电性的重要参数之一。
注入剂量的定义与计算方式
其中:
I:离子束电流(单位:A,安培)
t:注入时间(单位:s)
q:单个离子的电荷(单位:C,库仑)
A:注入区域的面积(单位:cm?)
注入剂量的作用?注入剂量直接决定了掺杂浓度,从而影响器件的以下性能:1,晶体管阈值电压2,寄生电容/电阻3,杂质分布均匀性等常见剂量范围?
| 掺杂类型 | 应用举例 |
|---|---|
| 轻掺杂(LD) | LDD结构、阱区、沟道掺杂等 |
| 中掺杂(MD) | 某些浅层结、偏压调节 |
| 重掺杂(HD) | S/D重掺杂、接触区、抗静电结构等 |
注入剂量的控制方法
离子束电流控制:通过控制离子源电流精确调节单位时间注入粒子数。
注入时间控制:设定准确的时间窗口,确保剂量稳定。
束斑扫描控制:均匀扫描覆盖整个晶圆,防止局部过量或不足。
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