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什么是离子注入的注入剂量?

10/27 17:19
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注入剂量(Dose)指的是单位面积内注入到硅晶圆等材料中的离子总数,其单位通常为?ions/cm?。它反映了掺杂杂质的总量,是决定器件电性的重要参数之一。

注入剂量的定义与计算方式

其中:

I:离子束电流(单位:A,安培)

t:注入时间(单位:s)

q:单个离子的电荷(单位:C,库仑)

A:注入区域的面积(单位:cm?)

注入剂量的作用?注入剂量直接决定了掺杂浓度,从而影响器件的以下性能:1,晶体管阈值电压2,寄生电容/电阻3,杂质分布均匀性等常见剂量范围?

掺杂类型 应用举例
轻掺杂(LD) LDD结构、阱区、沟道掺杂等
中掺杂(MD) 某些浅层结、偏压调节
重掺杂(HD) S/D重掺杂、接触区、抗静电结构等

注入剂量的控制方法

离子束电流控制:通过控制离子源电流精确调节单位时间注入粒子数。

注入时间控制:设定准确的时间窗口,确保剂量稳定。

束斑扫描控制:均匀扫描覆盖整个晶圆,防止局部过量或不足。

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