一种LDO使能控制端失效的分析方法

caroline11

提出了一款低压线性稳压器 LDO 使能控制端失效分析过程，并以此为例详细阐述了芯片失效分析的过程和分析方法。通过对失效现象的测试分析，基本确认 EN 端失效的模式，再通过 EMMI、FIB、仿真等技术手段，最终确认芯片的失效机理，对于 LDO 产品的设计、优化和分析有重要参考意义。